EXplorer Aspex FEI — cканирующий электронный микроскоп со встроенным энергодисперсионным анализом для исследований широкого спектра поверхностей и частиц.
В комплектацию микроскопа входит стандартное программное обеспечение для микроанализа. Если Ваши потребности предполагают расширенный анализ частиц, то ASPEX может предложить программы с более широким спектром исследовательских возможностей:
1. AFA Automated Feature Analysis (Автоматизированный анализ признаков) — быстрый и точный инструмент для определения размеров и количества эллипсоидальных частиц или частиц, имеющих форму, приближенную к эллипсу.
2. CFA Complex Feature Analysis (Комплексный анализ признаков) — автоматическое определение размера и количества частиц, высокая производительность: сотни или тысячи частиц в час без вмешательства оператора; специально оптимизирован для определения частиц сложных и нестандартных форм.
3. MQA ™ Metal Quality Analyzer (Анализатор качества металла) — специализированная SEM / EDS система, которая позволяет осуществлять контроль качества материалов в технологическом процессе, в том числе и на сталелитейных заводах. Простота в использовании предлагаемого программного обеспечения и форма отчетности, которая формируется одним нажатием кнопки, позволяет осуществлять контроль качества стали в автоматическом режиме 24/7.
4. GSR Gun Shot Residue Analysis (Анализ следов выстрела) — программа обеспечивает морфологический и элементный анализ частиц и формирует отчет об исследуемом образце.
Эффективность распознавания |
Более чем 95% |
Диапазон определяемых частиц |
От 30 нм до 5 мм |
Детекторы |
SED, Quad BSED, SDD EDX |
Ускоряющее напряжение |
0.2 до 25 кВ |
Диапазон перемещения столика |
80мм x 100мм |
Вакуумная система |
Режим высокого вакуума |
Диапазон определяемых |
От бора |
Разрешение по энергии |
135 эВ |
Загрузка образцов |
Одновременная загрузка |
Столик с электроприводом |
X-Y 80мм x 100мм |
Размеры камеры |
180мм x 230мм x 140мм |